基于物联网的暗室高频测试数据分析系统及方法

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基于物联网的暗室高频测试数据分析系统及方法
申请号:CN202410929119
申请日期:2024-07-11
公开号:CN118837656B
公开日期:2025-04-15
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于物联网的暗室高频测试数据分析系统及方法,涉及暗室测试技术领域,该系统包括依次执行的配置连接调试模块、测试记录模块、数据分析模块以及调整执行模块;其技术要点为:系统能够根据首次异常波动点与标准波动区间的差值,预测所需的屏蔽量,并在暗室条件下配置相应数量的屏蔽罩,通过逐步增加屏蔽罩的方式,确保待测设备的信号强度在标准波动区间内,根据设备影响度预估指标和初始距离值,系统生成隔离范围预估值,根据该预估值提示工程师设定其他设备的安装位置,以确保它们与待测设备的最小安全距离,从而减少电磁干扰可能性,保证整体系统的稳定性和可靠性。
技术关键词
数据分析系统 测试记录模块 待测设备 测试仪器 频率 频谱分析仪 信号发生器 测试数据分析方法 数据分析模块 物联网技术 生成设备 指标 暗室条件 机制 指数 算法
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