智能物联网终端的自动闭环测试反方法及系统

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智能物联网终端的自动闭环测试反方法及系统
申请号:CN202410929154
申请日期:2024-07-11
公开号:CN119001263A
公开日期:2024-11-22
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种智能物联网终端的自动闭环测试方法及系统,方法包括:获取待测的智能物联网终端的设备信息,打开测试控制软件,生成并向测试台控制器发送第一测试指令;对第一测试指令进行分解以得到第一分解指令;通过测试控制软件采集智能物联网终端运行过程中的第一运行数据,并在智能物联网终端运行预设时间之后采集运行过程中的第二运行数据;通过测试控制软件发送第二测试指令至测试台控制器;对第二测试指令进行分解以得到第二分解指令,根据第二分解指令关闭辅助设备和智能物联网终端;通过测试控制软件对第一运行数据和第二运行数据进行分析以得到测试结果。本发明提升了智能物联网终端测试的效率和准确性。
技术关键词
智能物联网终端 闭环测试方法 测试台 指令 辅助设备 生成测试报告 闭环测试系统 波形 参数 项目 数模转换电路 序列 傅里叶算法 下位机 开关 单相接地 控制器 数据采集模块 信号
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