一种国产AD芯片的校准方法、系统、装置、设备及介质

本发明公开了一种国产AD芯片的校准方法、系统、装置、设备及介质，该方法包括：确定第一温度范围内的目标数据偏差信息；根据目标数据偏差信息确定数据偏差中心点信息；根据数据偏差中心点信息确定校准系数；基于校准系数对国产AD芯片的输出数据进行校准。本发明通过确定第一温度范围内的目标数据偏差信息；其中，第一温度范围可以指室温范围，目标数据偏差信息可以从样本数据集中获取；根据从样本数据集中获取的目标数据偏差信息，通过公式计算得到数据偏差中心点信息；根据数据偏差中心点信息进一步确定校准系数；基于确定的校准系数使得国产AD芯片在室温范围下的校准能够满足全量程范围数据精度的要求，优化目标产品生产的效率。