网状拓扑反馈结构和量子比特测控系统

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网状拓扑反馈结构和量子比特测控系统
申请号:CN202410935043
申请日期:2024-07-12
公开号:CN118627635A
公开日期:2024-09-10
类型:发明专利
摘要
本公开提供了一种网状拓扑反馈结构和量子比特测控系统,该结构包括:多个反馈功能节点,被配置为能够根据辅助量子比特的读出结果,执行纠错算法来推测数据量子比特发生错误的位置和类型,并控制调控装置实时纠正数据量子比特的错误;其中,纠错算法被拆分为多个子功能,每个反馈功能节点执行一个或多个子功能,多个反馈功能节点中的任意节点之间能够进行互联。该结构通过将复杂纠错算法分解成功能更加简单的子功能,并将子功能部署到多个反馈功能节点上,从而能够调用更多的计算资源,支持更大的纠错编码规模。
技术关键词
纠错算法 网状拓扑 节点 调控装置 现场可编程门阵列芯片 测控系统 读出装置 纠错编码 端口 数据 量子态 集成电路 波形 规模 定义 资源 指令 信号
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