一种时钟芯片ATE测试电路及测试方法

本发明提供了一种时钟芯片ATE测试电路及测试方法，时钟芯片具有第一差分输出端和第二差分输出端，ATE测试电路包括第一阻抗匹配电路、第二阻抗匹配电路、第一匹配电阻接入电路、第二匹配电阻接入电路、终端匹配电阻接入电路以及参考电压与参考地接入电路；其中分别提供匹配电阻、参考电压、参考地以及匹配阻抗的接入。本发明直接通过对控制测试电路中的匹配电阻、参考电压、参考地以及匹配阻抗的接入组合，满足时钟芯片不同输出类型的测试，从而减少匹配电路，同时在电路中采用软件切换的方式，从而减少人为物理切换的时间，总体达到提高测试效率、降低测试成本。