堆叠封装存储器的测试方法及系统

本发明涉及半导体的技术领域，提供了堆叠封装存储器的测试方法及系统，包括采集电气性能数据，并输入预设的测试模型，输出电气特性参数；对电气特性参数进行处理，得到聚类结果，对聚类结果进行筛选，得到性能数据集，对性能数据集进行模式识别处理，得到模式识别结果；对模式识别结果进行热图分析，生成热度分布图；对聚类结果、性能数据集、模式识别结果以及热度分布图进行综合评估，得到测试评估报告。通过对堆叠封装存储器的电气性能数据进行全面的采集、处理和分析，实现了对存储器芯片的精准测试和全面评估，改善无法实现对堆叠封装存储器的精确测试和全面评估，存在着测试精度不足和无法全面评估芯片性能的问题。