一种基于均匀圆阵的相位差变化率定位方法

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正文
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一种基于均匀圆阵的相位差变化率定位方法
申请号:CN202410940576
申请日期:2024-07-15
公开号:CN118795412B
公开日期:2025-12-12
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于均匀圆阵的相位差变化率定位方法,首先使用均匀圆阵完成对辐射源信号的数据采集,通过频域鉴相方式,对两阵元接收信号做傅里叶变换,再求其相关谱Y(ω)的谱峰位置,获取该处的相位值即为模糊基线相位差;然后遍历全部的模糊数,利用相似度计算的方式,实现圆阵解模糊,去除鉴相过程产生的整周模糊影响,得到各个基线的无模糊相位差,最后设定0阵元为中心阵元的基线组为基本组,遍历圆阵各个阵元,分别得到不同基线组的定位结果,再基于相位差变化率对各组结果进行加权,得到最终的辐射源空间位置;本发明算法对检测阵型进行改进,使用均匀圆阵完成整体检测,提升了算法的全向检测能力。
技术关键词
基线 定位方法 辐射源空间位置 阵列 检测方位角 坐标 空间位置关系 谱峰位置 天线阵元 频率 数据 天线组 信号 速度 数值 算法 周期 时间段
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