测试向量的生成方法及计算机可读存储介质

本发明提供了一种测试向量的生成方法及计算机可读存储介质，应用于半导体制备技术领域。其包括：获取测试向量的原始指令集，原始指令集用于形成测试待测芯片的多个管脚的原始测试信号的周期时长，根据目标抖动注入策略，对原始指令集进行修改，得到修改后的指令集，修改后的指令集用于形成测试待测电路的测试向量中的注入抖动或未注入抖动的目标测试信号的周期时长，以针对目前内部未设置有抖动电路且价格较低的测试设备，提出了通过从软件指令修改的方式，即通过在形成测试向量中的测试信号的原始指令集中加入针对不同目标抖动注入策略所对应的不同抖动指令的方式，实现对待测芯片进行抖动测试的目的，既降低了测试成本，又提高了测试效率。