结构参数化p-box可靠性分析方法及装置

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结构参数化p-box可靠性分析方法及装置
申请号:CN202410948134
申请日期:2024-07-16
公开号:CN118886204A
公开日期:2024-11-01
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种结构参数化p‑box可靠性分析方法及装置,涉及产品可靠性分析技术领域,包括步骤S101,确定影响结构性能的不确定参数以生成参数化p‑box变量向量X,构建结构的功能函数,并进行单变量降维;步骤S102,对单变量降维的功能函数积分,计算功能函数的四阶原点矩;步骤S103,采用最大熵方法(MEM)构造功能函数的概率密度函数,并以此计算失效概率;步骤S104,基于Kr igi ng模型的全局优化算法(EGO),对参数化p‑box变量向量X的不确定分布参数向量θ进行寻优,求出失效概率的极值。本申请通过内层通过求解统计矩计算失效概率代替传统内层采样,外层通过全局优化算法(EGO)优化快速迭代寻优替代传统方法外层采样,大大提高计算效率。
技术关键词
Kriging模型 可靠性分析方法 概率密度函数 全局优化算法 变量 样本 累积分布函数 生成参数 产品可靠性分析 可靠性分析装置 可读存储介质 极值 计算机 存储器 处理器 指令 模块 电子设备 程序
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