一种PCB表面缺陷检测方法和装置、系统、存储介质

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一种PCB表面缺陷检测方法和装置、系统、存储介质
申请号:CN202410952685
申请日期:2024-07-16
公开号:CN118839262A
公开日期:2024-10-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种PCB表面缺陷检测方法和装置、系统、存储介质,包括:步骤S1、获取PCB数据集;步骤S2、根据PCB数据集训练深度学习模型;步骤S3、将PCB数据集输入到训练好的深度学习模型中进行缺陷检测。采用本发明的技术方案,可以及时发现和修复这些微小的缺陷,实现高效准确的缺陷检测。
技术关键词
表面缺陷检测方法 表面缺陷检测装置 训练深度学习模型 注意力机制 表面缺陷检测系统 网络模块 数据 处理器 短路 存储器 阶段 动态
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