一种适用于教学的芯片测试平台

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一种适用于教学的芯片测试平台
申请号:CN202410953112
申请日期:2024-07-16
公开号:CN118840922A
公开日期:2024-10-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种适用于教学的芯片测试平台,包括:集成在同一平台的可调直流电源、二极管、滑动变阻器、可调逻辑电平、万用表、可调恒流源、示波器和信号发生器,对待测试芯片进行开路和短路测试、直流测试、功能测试和交流测试。本发明提出了将芯片基础测试模块集成到一个测试设备中,测试芯片的相关参数,只需要搭建简单的电路,即可达到对芯片测试的目的。
技术关键词
芯片测试平台 万用表 滑动变阻器 可调恒流源 可调直流电源 待测芯片 保护二极管 逻辑 电平 信号发生器 教学 示波器 电流值 电压 发光二极管 漏电流
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