批量处理系统自动测试方法、装置和电子设备

本发明提供一种批量处理系统自动测试方法、装置和电子设备，涉及金融技术领域。该方法包括：基于测试任务中的测试目标确定批量处理系统对应的至少一个测试层级；针对各测试层级，通过对批量处理系统的数据处理链路进行分析，确定测试层级对应的测试目标的多维影响性分析数据集；基于各测试目标的多维影响性分析数据集，通过模糊测试算法分别生成各测试目标对应的多个测试用例；基于各测试目标的多维影响性分析数据集和各测试目标分别对应的测试用例，对各测试目标进行测试，获得测试结果。该方法能够实现测试用例的自动生成和批量处理系统的自动测试，降低了人力成本且生成的测试用例覆盖度高，能够降低缺陷逃逸的问题。