摘要
本发明适用于硅纳米器件加工技术领域,尤其涉及一种硅纳米器件加工智能控制系统及方法,所述方法包括:获取待加工图纸,将待加工原材料固定在夹具上;对待加工原材料进行图像采集,对待加工原材料进行定位,生成全局加工路径;对待加工图纸进行识别,确定局部加工路径,生成智能控制路径;根据智能控制路径对硅纳米器件进行图像采集,得到实时监测图像,对实时监测图像进行成品比对,判定加工是否存在误差,生成监测结果。本发明通过对图纸和原料进行图像识别,从而自动进行加工路径规划,在加工过程中,自动识别加工好的成品与图纸之间的误差,当误差过大时,自动停止,避免了由于出现误差导致的大批量残次品出现的情况。
技术关键词
纳米器件
智能控制方法
图纸
成品
局部路径规划
智能控制系统
生成智能
误差
全局路径规划
图像处理
监测模块
图像采集单元
坐标系
像素
定位单元
夹具
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