一种硅纳米器件加工智能控制系统及方法

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一种硅纳米器件加工智能控制系统及方法
申请号:CN202410961598
申请日期:2024-07-17
公开号:CN118919445A
公开日期:2024-11-08
类型:发明专利
摘要
本发明适用于硅纳米器件加工技术领域,尤其涉及一种硅纳米器件加工智能控制系统及方法,所述方法包括:获取待加工图纸,将待加工原材料固定在夹具上;对待加工原材料进行图像采集,对待加工原材料进行定位,生成全局加工路径;对待加工图纸进行识别,确定局部加工路径,生成智能控制路径;根据智能控制路径对硅纳米器件进行图像采集,得到实时监测图像,对实时监测图像进行成品比对,判定加工是否存在误差,生成监测结果。本发明通过对图纸和原料进行图像识别,从而自动进行加工路径规划,在加工过程中,自动识别加工好的成品与图纸之间的误差,当误差过大时,自动停止,避免了由于出现误差导致的大批量残次品出现的情况。
技术关键词
纳米器件 智能控制方法 图纸 成品 局部路径规划 智能控制系统 生成智能 误差 全局路径规划 图像处理 监测模块 图像采集单元 坐标系 像素 定位单元 夹具 线条
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