一种基于机器视觉的纳米银透明导电膜质量检测系统

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一种基于机器视觉的纳米银透明导电膜质量检测系统
申请号:CN202410965213
申请日期:2024-07-18
公开号:CN118501605B
公开日期:2024-11-15
类型:发明专利
摘要
本发明涉及纳米银透明导电膜质量检测技术领域,具体公开一种基于机器视觉的纳米银透明导电膜质量检测系统,该系统包括:检测组划分模块、导电性能检测模块、透明度检测模块、数据库、平整度检测模块和综合质量评估模块;本发明通过分析纳米银透明导电膜的导电性能指数、透明度符合指数和平整度,从而分析目标生产批次的纳米银透明导电膜的综合质量评估指数,并进行反馈,直观地展示了纳米银透明导电膜的质量情况,解决了传统的质量检测方法中存在的检测效率低、精度差等问题,通过机器视觉技术实现自动化检测,提高了检测效率,有助于提升产品性能、优化产品设计、加强质量控制,并最终提升产品的市场竞争力。
技术关键词
纳米银透明导电膜 透明度 污垢 监测点 指数 采样点 因子 图像 优化产品设计 三维信息模型 机器视觉技术 模块 可见光 极值 偏差 波长 精度
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