一种确定量子比特操控精度的方法、存储介质和电子设备

本发明提供了一种确定量子比特操控精度的方法、存储介质和电子设备，包括如下步骤根据窄带随机过程的包络与相位分布，获得信噪比数据；根据量子芯片的固有参数确定理想控制信号；进行多次噪声取样，生成多个噪声，与所述信噪比数据形成不同的信噪比条件；将所述噪声分别加入所述理想控制信号中，生成带噪声的控制信号；使用所述带噪声的控制信号控制量子比特，通过仿真计算不同信噪比条件下的噪声结果，选取最优的信噪比。本发明中通过仿真可以模拟不同信噪比条件下的高频单量子比特门操控信号，尤其是与噪声产生相关的特征，从而可以选择合适的信噪比，通过信号幅度和波形调控来减少噪声影响，提高量子比特门操控精度。