集成电路性能预测模型及建模方法、装置、设备、介质

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集成电路性能预测模型及建模方法、装置、设备、介质
申请号:CN202410987931
申请日期:2024-07-23
公开号:CN118520841B
公开日期:2024-10-15
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种集成电路性能预测模型及建模方法、装置、设备、介质,应用于集成电路、人工智能技术领域,其中建模过程包括:先从集成电路对应的所有工艺偏差随机变量中,按第一采样数量进行随机采样,得到样本矩阵;以及根据样本矩阵进行电路仿真,得到对应的电路性能向量,并将样本矩阵和电路性能向量构成数据集;最后,基于数据集训练预设的电路性能预测模型,并在训练中对电路性能预测模型进行性能评估,若通过评估则结束训练,若未通过评估则按第二采样数量新增采样以更新数据集。通过动态采样和迭代训练,既能够保证用于训练集成电路性能预测模型的样本数量足够,又能够在动态调整中及时停止迭代,很好地兼顾了模型预测精准度和计算开销。
技术关键词
性能预测模型 集成电路 建模方法 电路仿真 样本 机器学习模型 判定电路 计算机可执行指令 矩阵 计算机存储介质 匹配追踪算法 人工智能技术 建模装置 偏差 学习算法 数据模块 处理器通信
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