一种芯片诊断覆盖率计算方法及装置

本发明涉及芯片诊断覆盖率技术领域，公开了一种芯片诊断覆盖率计算方法及装置，包括以下步骤：根据RTL代码阶段的安全机制设计，通过EDA工具将不同类型的故障注入到指定的芯片模块上，对芯片模块进行诊断覆盖率的测试；获取并归类所述芯片模块根据注入的不同类型故障所进行诊断覆盖率的测试结果；计算被归类的测试结果各自在总体测试结果中的占比，并基于ISO26262标准评判所述安全机制在工作状态下的诊断覆盖率。针对仿真评估诊断覆盖率不够合理、准确的特征设计多种测试情况，并据此设置多个诊断覆盖率的计算公式，通过故障注入仿真为仿真数据，以更合理的计算模型带入仿真数据，计算出更为准确、更为合理的仿真覆盖率。