加速存储芯片测试的方法及其系统、电子设备

本申请公开了一种加速存储芯片测试的方法及其系统、电子设备，涉及芯片测试技术领域。该方法包括：响应于汇编代码测试指令向候选存储芯片的全空间写入测试数据；从候选存储芯片中确定当前测试的第一目标存储芯片；基于预设单次读取数据量对第一目标存储芯片中的测试数据进行数据读取处理，得到第一回读数据；对测试数据和第一回读数据进行对比校验处理，得到对比校验结果；根据对比校验结果生成结果标志信息；检测结果标志信息确定第一目标存储芯片的测试情况，完成对第一目标存储芯片的测试。能够降低CPU运行成本，对单个存储芯片提高测试效率、减小测试耗时，从而有利于减少量产测试过程中的测试耗时、提高量产测试效率。