可修调高精度低温漂电压基准源的批量测试方法及系统
申请号：CN202410999897
申请日期：2024-07-24
公开号：CN118937956A
公开日期：2024-11-12
类型：发明专利
摘要
本发明涉及一种可修调高精度低温漂电压基准源的批量测试方法及系统，属于芯片测试技术领域。本发明利用ATE测试设备的自动化测试原理，通过温度采集电路对全温度(‑40℃至125℃)数据进行采集，利用开关切换来同时精确测量大量芯片的电压基准，利用ATE测试机的运行程序实现测试数据的分析处理，得出芯片的电压基准数值和温漂系数后再利用修调技术进行对应的修调。最后第二次全温(‑40℃至125℃)测试得到准确的芯片电压基准高精度数值和温漂数值，为此类高精度低温漂电压基准源芯片的批量自动化测试提供了可行的测试方法。
技术关键词
高精度低温漂
高低温设备
ATE测试设备
测试方法
批量
待测芯片
测试机设备
温度采集电路
板卡
修调电路
继电器开关控制
模拟开关芯片
芯片测试技术
电压基准源
修调技术
工作环境温度
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校准
