芯片测试方法及芯片测试装置

本发明公开了一种芯片测试方法及芯片测试装置，包括：获取来自上位机的第一测试指令；根据第一测试指令，读取已连接的多个测试卡座的接口信息，得到测试卡座列表；接收由多个测试卡座中任一测试卡座发送的第一配置参数；根据第一配置参数确定发送第一配置参数的第一目标测试卡座，该第一目标测试卡座为测试卡座列表中的任一测试卡座，该第一目标测试卡座中装载了待测试的第一目标芯片；加载第一目标测试卡座中的第一驱动程序对第一目标芯片进行测试，得到第一目标芯片对应的测试结果。以此，能够根据不同测试卡座发送的配置参数，灵活加载相应的驱动程序进行测试，从而有效提高了对各种不同型号存储芯片进行功能测试的兼容性。