一种基于线光镊的三维光阱刚度校准方法

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一种基于线光镊的三维光阱刚度校准方法
申请号:CN202411008534
申请日期:2024-07-26
公开号:CN118937719A
公开日期:2024-11-12
类型:发明专利
摘要
本发明提供的是一种基于线光镊的三维光阱刚度校准方法,其特征是:通过柱透镜旋转产生线光镊,用其来一次性捕获多个聚苯乙烯微珠,并结合四象限探测器,对沿着线激光方向、垂直于线激光的方向和光轴方向的光阱刚度进行校准。该设计能够通过捕获多个微珠快速地测量出一条光线上不同位置的光阱刚度,可以帮助研究人员理解微粒或生物分子在光场中的行为,还可以用于开发新型的生物传感器、纳米机器人以及基于光的精密测量设备,涉及到多种物理量的精确测量和数据分析,为光学操控技术的进一步发展和应用提供了重要支持,为精密测量、微操控和高灵敏度探测提供了新的可能性,对于多种科学研究和技术应用具有重要意义。
技术关键词
四象限探测器 校准方法 光学操控技术 刚度 纳米机器人 生物传感器 CCD相机 照明光源 凸透镜 滤光片 反射镜 激光器 物镜 微粒 分子
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