终端测试系统和方法、芯片、存储介质

本发明公开一种终端测试系统和方法、芯片及存储介质，该终端测试系统包括：测试仪表、自适应功率衰减装置、及控制终端，自适应功率衰减装置位于测试仪表和被测终端之间的射频链路上，控制终端与测试仪表和被测终端中的至少一者连接且控制终端与自适应功率衰减装置连接，控制终端根据测试仪表设定的期望功率值和被测终端的上行发射功率值，确定功率补偿值，并发出与功率补偿值对应的功率补偿指令至自适应功率衰减装置，令自适应功率衰减装置据此进行功率补偿。本发明能实现自动化功率补偿，并具有适用各类频带、调整范围广且调整到位等优点，能解决现有技术中测试仪表进行线损调整存在调整范围受限、不到位及部分频带缺失、线损补偿不生效等问题。