一种基于FPGA的存储器芯片测试方法及测试系统

根据本发明的实施例提供了一种基于FPGA的存储器芯片测试方法及测试系统。所述存储器芯片测试方法包括以下步骤：S1、由上位机获取测试功能指令，并转发至FPGA主控模块；S2、由FPGA主控模块基于封装于其中的待测存储器芯片规范对所接收的测试功能指令进行解析、匹配，以得到与测试功能指令对应的操作指令；S3、根据所得到的操作指令执行对待测存储器芯片的操作，并且将操作的结果经由FPGA主控模块返回到上位机。通过采用了FPGA内封装待测存储器芯片规范来进行解析、匹配，能够更快进行存储器芯片测试验证；此外，更容易转换到对其它类型存储器芯片的验证；另外，通过采用了上位机进行测试结果显示，展示更直观，其测试架构更简单，并且更节省时间。