一种手机玻璃面板表面缺陷检测的度量约束迁移方法及系统

本发明公开了一种手机玻璃面板表面缺陷检测的度量约束迁移方法及系统，包括以下步骤：在亚克力面板上构筑与手机玻璃面板类似的缺陷，采集样本预处理后得到源域数据；采集两种检测背景环境下的表面缺陷样本，经过预处理后得到的数据，部分作为训练集中的目标域数据以及全体数据作为测试集数据；构建度量约束迁移检测模型；对所述模型进行训练，并对训练好的模型进行测试；根据采集图像的背景环境，将采集的手机玻璃面板图像输入至训练好的对应背景的模型，得到手机玻璃面板表面缺陷检测结果。本申请与现有技术相比，解决了对使用背景环境的苛刻要求以及人力和物力成本高的问题，实现对手机玻璃面板表面缺陷的快速化、准确化的检测效果。