电离层E层空间物理参数高精度观测装置使用方法

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电离层E层空间物理参数高精度观测装置使用方法
申请号:CN202411022468
申请日期:2024-07-29
公开号:CN118937815A
公开日期:2024-11-12
类型:发明专利
摘要
本发明涉及大气研究技术领域,且公开了一种电离层E层空间物理参数高精度观测装置使用方法,包括多波段探测器,数据采集系统、数据处理算法、高精度定位系统;数据采集系统:通过数据采集系统实时记录并存储探测器获取的数据,数据处理算法:利用数据处理算法,对数据进行整合、校准和分析,提取出电离层E层的各项物理参数,高精度定位系统:配备定位系统。该电离层E层空间物理参数高精度观测装置使用方法,用于实时监测和测量电离层E层的电子密度、风场等各项空间物理参数。该装置结合先进的观测技术和数据处理算法,能够实现对电离层E层的精准观测和分析,为空间物理和大气科学研究提供了重要数据支持。
技术关键词
数据处理算法 高精度定位系统 观测装置 数据采集系统 多波段 探测器 物理 参数 校准系统 数据分析软件 数据传输网络 地理位置信息 观测技术 辅助设备 信号处理 无线电 传感器
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