基于小样本的双分支轮廓增强式工业品缺陷检测方法

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基于小样本的双分支轮廓增强式工业品缺陷检测方法
申请号:CN202411023745
申请日期:2024-07-29
公开号:CN119151860B
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本发明公开的基于小样本的双分支轮廓增强式工业品缺陷检测方法,包括以下步骤:1.构建工业品的正样本图像数据集和缺陷样本图像数据集;2.构建去背景模块,对参考图像和待配准图像去背景;3.构建图像旋转粗配准模块,对第一待配准图像进行旋转至与第一参考图像对齐;4.构建双分支特征级精配准模块,求解特征图c的均值及方差,作为工业品的模板特征;5.求解同一工业品缺陷样本图像的特征图d和异常分数矩阵;6.建立自适应缺陷阈值分割网络,得到缺陷分割图像。本发明实现了在小样本场景下检测精度和模型通用性之间更好的平衡。
技术关键词
缺陷检测方法 图像 边缘检测算子 分支 空间变换网络 样本 模板特征 卷积神经网络提取 轮廓信息 矩阵 像素 子模块 网结构 掩膜 物体 数据 上采样
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