用于PCBA型T/R组件微波测试的SMA接头、装置及方法

本发明提供了一种用于PCBA型T/R组件微波测试的SMA接头、装置及方法，属于射频组件测试技术领域。该用于PCBA型T/R组件微波测试的SMA接头包括基座以及插头；插头连接在所述基座上，所述插头内部设有通道；所述插头的外径等于SMP接头最小的内径。本发明提供的用于PCBA型T/R组件微波测试的SMA接头，插头外径等于SMP接头的内径，在测试过程中，由于SMP的内径与插头的外径适配，SMP的内径对插头施加的压力较小，在测试过程中所需要的插拔力较小，避免了在将插头插进SMP接头中由于插拔力过大导致SMP接头被损伤。