用于对显示屏幕进行质检的方法、电子设备及存储介质

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用于对显示屏幕进行质检的方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202411027400
申请日期:2024-07-30
公开号:CN118552545B
公开日期:2024-10-29
类型:发明专利
摘要
本披露公开了一种用于对显示屏幕进行质检的方法、电子设备及存储介质。该方法包括:获取第一曝光图像、第二曝光图像和包含斜视划伤缺陷的第一目标图像;对第一目标图像执行感兴趣区域提取操作,以获得斜视划伤缺陷所在图像区域的区域信息和缺陷图像数据;根据区域信息,从第一曝光图像和所述第二曝光图像中获得干扰图像数据;基于缺陷图像数据与干扰图像数据之间的图像数据差,获得包含图像数据差的第二目标图像;以及将第二目标图像输入至缺陷检测模型中进行缺陷检测操作,以对显示屏幕进行质检。利用本披露的方案,可以有效检测出显示屏幕的斜视划伤缺陷及其缺陷类型,有助于提高显示屏幕质检的准确性。
技术关键词
图像 深度神经网络模型 划伤缺陷 感兴趣区域提取 数据 干扰轮廓 缺陷轮廓 屏幕 灰阶 电子设备 标签 程序 处理器 指令 可读存储介质 存储器 计算机 对象
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