摘要
本披露公开了一种用于对显示屏幕进行质检的方法、电子设备及存储介质。该方法包括:获取第一曝光图像、第二曝光图像和包含斜视划伤缺陷的第一目标图像;对第一目标图像执行感兴趣区域提取操作,以获得斜视划伤缺陷所在图像区域的区域信息和缺陷图像数据;根据区域信息,从第一曝光图像和所述第二曝光图像中获得干扰图像数据;基于缺陷图像数据与干扰图像数据之间的图像数据差,获得包含图像数据差的第二目标图像;以及将第二目标图像输入至缺陷检测模型中进行缺陷检测操作,以对显示屏幕进行质检。利用本披露的方案,可以有效检测出显示屏幕的斜视划伤缺陷及其缺陷类型,有助于提高显示屏幕质检的准确性。
技术关键词
图像
深度神经网络模型
划伤缺陷
感兴趣区域提取
数据
干扰轮廓
缺陷轮廓
屏幕
灰阶
电子设备
标签
程序
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