PCIE接口标准测试卡、主板检测治具及生产线

本发明涉及PCIE接口检测技术领域，公开了一种PCIE接口标准测试卡、主板检测治具及生产线，包括卡本体，卡本体上设置有测试系统，测试系统包括第一接口、PCIE Switch模块、SPI模块、MCU模块和供电接口，第一接口用于与测试主板上的PCIE接口连接；PCIE Switch模块与第一接口连接，用于对测试主板发送的高速PCIE信号进行检测；SPI模块与PCIE Switch模块连接，用于存储PCIE Switch模块的固件信息；MCU模块与PCIE Switch模块连接；本发明公开的PCIE接口标准测试卡、主板检测治具及生产线，能够解决FCT治具结构复杂，以及内部空间设计难度大的问题。