缺陷分类方法、装置、电子设备及存储介质

本申请涉及缺陷检测技术领域，特别涉及一种缺陷分类方法、装置、电子设备及存储介质，其中，方法包括：获取偏振特征矢量目标偏振测量态下采集的待区分缺陷的多组暗场偏振图像；计算多组暗场偏振图像的二维偏振特征矢量；将二维偏振特征矢量输入至预先训练好的目标分类器，目标分类器输出待区分缺陷的分类结果。由此，解决了相关技术中对于毛丝和划伤的区分准确率较低等问题。