一种基于编码器-解码器架构的缺陷检测方法

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一种基于编码器-解码器架构的缺陷检测方法
申请号:CN202411031477
申请日期:2024-07-30
公开号:CN118967618A
公开日期:2024-11-15
类型:发明专利
摘要
本发明提出一种基于编码器‑解码器架构的缺陷检测方法。包括:设计空间增强网络进行数据增强,以深度残差网络作为特征提取部分进行特征提取,多层编码器网络将特征提取后的缺陷图像特征图的输入序列经过多个编码器转化为一个固定维度的向量表示,多层解码器网络根据编码器生成的向量表示来生成目标序列,捕捉的全局信息,进而通过预测匹配模块完成对缺陷的检测过程。本发明方法应用于工业缺陷检测能够达到更精确、更鲁棒的检测效果。
技术关键词
解码器架构 缺陷检测方法 编码器 图像位置特征 工业产品图像 特征提取模块 匹配模块 定位缺陷位置 工业缺陷检测 序列 网络模块 深度残差网络 检测网络模型 数据 定位边框 坐标点
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