一种基于深度学习的芯片老化状态估计和预警方法

本发明涉及一种基于深度学习的芯片老化状态估计和预警方法，所述估计和预警方法通过将深度学习算法，为芯片老化预警提供了高效的解决方案，包括如下步骤：训练算法模型，保存权重；开发算法模型IP核；例化IP核并部署；编写控制程序，包括数据、权重的传输和中断；与上位机通信验证系统，在上位机查看预测结果。通过上述步骤，可以实现算法从训练到部署再到应用，最终通过与上位机通信验证其功能完整性。本发明所述的估计和预警方法，利用采集到的数据信息快速对芯片老化状态做出可信度较高的估计并及时预警，能有效地估计当前芯片的老化状态并发出预警，提高工作效率、降低维护成本、减少经济损失和避免意外事故。