一种基于信息欠采样的无透镜定量相位成像及超分辨方法

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正文
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一种基于信息欠采样的无透镜定量相位成像及超分辨方法
申请号:CN202411035009
申请日期:2024-07-31
公开号:CN118587094B
公开日期:2024-12-03
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于信息欠采样的无透镜定量相位成像及超分辨方法,引入像素判别因子来分离噪声和信号,构建欠采样更新系数矩阵,为相位重建提供自适应的强度更新方案。本发明基于传统无透镜片上显微镜,为去除记录过程不可避免的噪声对重建结果的影响提供一种新的解决方案,在信息欠采样的前提下提高了重建精度和鲁棒性,降低实验系统对器件性能的依赖。
技术关键词
定量相位成像 分辨方法 传感器 显微成像系统 透镜 强度 图像 照明 矩阵 光强 波长 噪声 像素 物体 光源 因子 上采样 显微镜 鲁棒性 算法
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