排除冗余故障的测试生成方法、装置、设备和存储介质

本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种排除冗余故障的测试生成方法、装置、设备和存储介质，其中，所述方法通过系统运行数据判断当前是否需要进行冗余故障排除，增加了测试生成中动态精简的成功率，减少了生成的测试向量，并在测试向量生成时，通过单故障测试生成器对故障列表中的所有故障进行判断，当选定的主要故障无法生成测试立方时，将主要故障排除，当主要故障能生成测试立方时，为主要故障生成测试立方，并在故障列表的剩余故障中随机选择一个故障作为次要故障，通过次要故障为测试立方填充比特，生成测试向量，从而解决目前的测试生成方案，由于并未排除冗余故障，系统精简向量的能力低，导致运行时间长，测试向量数量多的问题。