一种集成芯片检测方法、装置、计算机设备和存储介质

本申请涉及一种集成芯片检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：接收客户请求，并根据所述客户请求生成待检测集成芯片，其中待检测集成芯片内包括阶段标识；响应于所述阶段标识为开发阶段标识，将待检测集成芯片输入集成芯片检测系统，生成第一检测结果；响应于第一检测结果为通过，将所述阶段标识修改为试产阶段标识，并将待检测集成芯片输入集成芯片检测系统，生成第二检测结果；响应于所述第二检测结果为通过，将所述阶段标识修改为生产阶段标识，并将待检测集成芯片输入集成芯片检测系统，生成第三检测结果；响应于第三检测结果为通过，结束检测。采用本方法能够保证生产的集成芯片质量，提高集成芯片检测效率。