一种改善CMOS图像传感器芯片感光面平整度的方法

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一种改善CMOS图像传感器芯片感光面平整度的方法
申请号:CN202411043191
申请日期:2024-07-31
公开号:CN118748195A
公开日期:2024-10-08
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种改善CMOS图像传感器芯片感光面平整度的方法,主要解决现有技术在提高芯片感光面的平整度时,加工周期和成本增加,且操作过程较为复杂的技术问题。该方法包括以下步骤:分别准备好芯片和管壳,并选择一种粘接材料;根据芯片的粘贴位置及尺寸,对管壳的封装面进行精密二次加工;建立有限元模型,通过仿真分析粘接材料在不同固化温度下对芯片变形造成的影响,获取粘接材料在芯片变形量最小时对应的固化温度;采用所选择粘接材料在其对应的固化温度下,将芯片粘接于加工后的管壳封装面上,从而实现CMOS图像传感器芯片感光面平整度的改善。该方法操作简单,便于实施、加工周期短、成本低,具有较强的可制造性。
技术关键词
精密磨削设备 仿真分析 金属加工液 陶瓷管壳 封装芯片 芯片封装 参数 切削液 尺寸 碱性 周期
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