一种超高密织物检测方法

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一种超高密织物检测方法
申请号:CN202411044704
申请日期:2024-08-01
公开号:CN118570201B
公开日期:2024-10-11
类型:发明专利
摘要
本发明涉及图像处理技术领域,具体涉及一种超高密织物检测方法,其方法包括:获取当前生产线上超高密织物的图像;利用改进的FT算法提取所述图像的显著性图;将所述显著性图中显著值大于阈值时对应的图像中像素点作为瑕疵点,若瑕疵点的出现频率大于设定值,则该超高密织物不合格。即本发明的方案能够准确地进行超高密织物的检测。
技术关键词
织物检测方法 像素点 通道 瑕疵 图像处理技术 幅值 算法 频率 符号 颜色
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