一种存储设备测试处理方法及装置

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一种存储设备测试处理方法及装置
申请号:CN202411045669
申请日期:2024-07-31
公开号:CN119201560A
公开日期:2024-12-27
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种存储设备测试处理方法及装置,该方法包括:获取待测试存储设备对应的测试环境的网络硬件资源以及测试用例需求;基于测试用例需求对测试环境的网络硬件资源进行配置处理,构建相应的网络拓扑结构;其中,网络拓扑结构包括存储设备与测试环境中至少一个服务器主机之间的对应关系;基于网络拓扑结构和测试用例需求配置得到相应的测试任务,并执行测试任务以对存储设备进行压力读写测试,获得测试结果;根据测试用例需求确定相应的指标门限,基于指标门限与测试结果进行评估分析,生成测试分析结果。本发明提供的存储设备测试处理方法,能够有效提升存储设备整体测试分析效率。
技术关键词
网络拓扑结构 存储设备测试 服务器主机 测试存储设备 指标 非暂态计算机可读存储介质 关系 测试工具 瓶颈 处理器 机器学习模型 压力 计算机程序产品 分析单元 脚本 标识 数据 存储器
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