基于大数据分析的半导体芯片检测数据处理系统及方法

本发明公开了基于大数据分析的半导体芯片检测数据处理系统及方法，属于数据分析技术领域。本发明系统包括：数据获取模块、检测任务顺序构建模块、数据分析与关联模块、关联关系验证与决策支持模块以及结果输出与报告模块；通过数据获取模块从数据库中获取检测数据，区分初检与复检结果一致与不一致的数据，并进行标签化处理；检测任务顺序构建模块根据初检和复检阶段的时间戳，建立检测任务顺序表，分析数据的检测任务顺序向量；数据分析与关联模块通过数据分析，判断检测任务之间的是否存在关联关系，并输出通知信息；关联关系验证与决策支持模块根据分析结果生成关键相邻元素组；结果输出与报告模块将分析结果可视化呈现。