EMU测试方法、装置、电子设备及存储介质

本发明实施例涉及芯片开发领域，公开了一种EMU测试方法、装置、电子设备及存储介质。本发明中，通过控制多路选择器从正常功能逻辑模式切换至后门加载逻辑模式；在所述后门加载逻辑模式下，通过运行后门加载逻辑代码，将需要加载到DDR的文件内容临时存放至内置的二维数组中。由此可提升EMU问题定位效率，提升EMU实际有效使用率，为使用者节省EMU使用成本，进而使得在便于实施，上手难度低的同时，提升芯片领域的产品开发调试的过程中问题定位及软件加载效率。