摘要
一种玻璃内部残余应力三维测量装置和测量方法,包括:照明系统、二维扫描系统、暗场产生系统、待测样品和数据采集系统。照明系统由光源和准直系统组成,为待测样品提供照明;二维扫描系统是一个可以二维移动的小孔;暗场产生系统由两个通光方向互相垂直的线性偏振器件组成,可以同步转动;待测样品为透明的光学元件,置于暗场产生系统中;数据采集系统用来记录实验数据;配套算法,开发一种三维偏振叠层衍射成像技术,三维重建待测元件中的残余应力分布。本发明提出的三维应力测量方法操作方便,计算结果精度高,可满足大口径光学元件内部残余应力的三维测量。
技术关键词
二维扫描系统
数据采集系统
准直系统
检偏器
叠层衍射成像技术
迭代算法
玻璃
大口径光学元件
应力测量方法
光斑
线性偏振片
照明系统
光束
待测元件
数据处理系统
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