玻璃内部残余应力三维测量装置和测量方法

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玻璃内部残余应力三维测量装置和测量方法
申请号:CN202411058090
申请日期:2024-08-02
公开号:CN119197837A
公开日期:2024-12-27
类型:发明专利
摘要
一种玻璃内部残余应力三维测量装置和测量方法,包括:照明系统、二维扫描系统、暗场产生系统、待测样品和数据采集系统。照明系统由光源和准直系统组成,为待测样品提供照明;二维扫描系统是一个可以二维移动的小孔;暗场产生系统由两个通光方向互相垂直的线性偏振器件组成,可以同步转动;待测样品为透明的光学元件,置于暗场产生系统中;数据采集系统用来记录实验数据;配套算法,开发一种三维偏振叠层衍射成像技术,三维重建待测元件中的残余应力分布。本发明提出的三维应力测量方法操作方便,计算结果精度高,可满足大口径光学元件内部残余应力的三维测量。
技术关键词
二维扫描系统 数据采集系统 准直系统 检偏器 叠层衍射成像技术 迭代算法 玻璃 大口径光学元件 应力测量方法 光斑 线性偏振片 照明系统 光束 待测元件 数据处理系统 光源 高清相机 圆偏振光
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