芯片前端设计的检查方法、存储介质及计算机程序产品

本申请公开了一种芯片前端设计的检查方法、存储介质及计算机程序产品，涉及芯片前端设计验证技术领域，该方法包括：根据芯片前端设计项目层次架构为每个层次的子项目文件添加对应的环境变量；在每个所述环境变量所表示的层次路径下添加对应的预设的质量检查文件夹；根据所述质量检查文件夹和所述芯片前端设计项目层次架构构建检查树；根据所述检查树中各层级的所述质量检查文件夹对所述芯片前端设计项目进行检查。通过为每个层次的子项目文件增加对应的质量检查文件夹，并根据所述质量检查文件夹和所述芯片前端设计项目层次架构构建检查树，提高了质量检查效率和水平，使芯片前端设计检查的质量得到了提升。