一种芯片晶圆测试台的固定设备

本发明公开了一种芯片晶圆测试台的固定设备，本发明涉及芯片晶圆测试技术领域。具体包括：测试台，所述测试台的外部固定连接有固定架，所述测试台的顶部固定连接有固定框；该芯片晶圆测试台的固定设备还包括：测试机构，用于调整测试装置的位置对晶圆进行测试，所述测试机构固定连接在固定架的外部，所述测试机构包括滑轨，所述滑轨的内部滑动连接有第一滑板，所述第一滑板的顶部固定连接有工位架，所述工位架的内部卡合连接有测试器，所述滑轨开设在固定架的顶部；固定机构，用于放置两个尺寸的晶圆并带动晶圆移动，所述固定机构固定连接在固定管的外部，该芯片晶圆测试台的固定设备，达到了提高设备的使用效率的目的。