可降低TSV孔底应力的扇出型封装结构及其制作方法

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可降低TSV孔底应力的扇出型封装结构及其制作方法
申请号:CN202411019504
申请日期:2024-07-29
公开号:CN118919507A
公开日期:2024-11-08
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种可降低TSV孔底应力的扇出型封装结构的制作方法,包括如下步骤:取一硅基板,在该硅基板上开设TSV孔,该TSV孔为盲孔,且其上部为倒角结构;在TSV孔中形成向硅基板对应于倒角结构的一面延伸覆盖的复合线路结构;在复合线路结构上键合支撑基板,然后对硅基板的另一面进行减薄,直至复合线路结构暴露;在硅基板的远离复合线路结构的一侧开设凹槽,在凹槽中贴装芯片;在硅基板的远离复合线路结构的一侧形成线路导出结构。本发明通过倒角结构的TSV孔可降低孔底应力,减少对绝缘层的影响,并可避免绝缘层以及金属线路层材料在TSV孔的孔口处出现堆积的问题;本发明可提高扇出封装结构的良率,节约封装成本。
技术关键词
复合线路结构 金属线路层 倒角结构 焊盘线路 支撑基板 应力 扇出封装结构 基础 芯片 凹槽 玻璃基板 信号
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