深度神经系统测试方法及相关装置

本发明属于人工智能领域，公开了一种深度神经系统测试方法及相关装置，包括：获取种子选择池以及待测试深度神经系统的测试目标；根据待测试深度神经系统的测试目标，基于预设的测试目标与种子选择策略对应关系集，得到待测试深度神经系统的目标种子选择策略；根据标初始种子选择策略从种子选择池中选择初始种子，得到待测试深度神经系统的初始种子集；根据待测试深度神经系统的初始种子集进行待测试深度神经系统的测试。可以在测试过程中，节省更多的时间和计算资源，相比目前常用的随机选取的方法更具效率，避免由于种子数量过大和测试资源有限的冲突导致的测试不充分情况；方法通用性良好，所用方法和算法可以迁移到其他指标、目标上，且不局限于特定的数据集或模型。