自动化测试方法、装置、电子设备及介质

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自动化测试方法、装置、电子设备及介质
申请号:CN202411067874
申请日期:2024-08-05
公开号:CN119166493A
公开日期:2024-12-20
类型:发明专利
摘要
本发明实施例提供了一种自动化测试方法、装置、电子设备及介质,涉及计算机技术领域。该方法包括:将待测试对象中的操作进行两两组合形成操作代码序列,获得操作代码序列集合;根据预设的语义约束和资源层级依赖关系,生成操作约束模型;根据操作约束模型和贪婪算法,对操作代码序列进行拓展,生成测试代码序列;获取参数值模型和参数约束模型;参数值模型定义了参数数据类型和取值范围;根据参数值模型、参数约束模型和两阶段式参数覆盖生成策略,对测试代码序列中各个操作的参数进行赋值并进行测试,获得全参数覆盖表和测试结果。该方法系统性覆盖了测试操作的相互影响,丰富了赋值的多样性,提高了测试的广度和效率。
技术关键词
序列 贪婪算法 自动化测试方法 策略 生成参数 自动化测试装置 对象 通信接口 电子设备 层级 存储器 处理器 语义 组合模块 关系 阶段 定义 可读存储介质 资源
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