基于图像处理的终端液晶表面缺陷检测方法

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基于图像处理的终端液晶表面缺陷检测方法
申请号:CN202411068559
申请日期:2024-08-06
公开号:CN118587216B
公开日期:2024-09-27
类型:发明专利
摘要
本发明涉及图像处理技术领域,具体涉及基于图像处理的终端液晶表面缺陷检测方法,包括:以终端液晶表面图像的像素点为目标像素点,对目标像素点的局部范围的像素点进行灰度拟合,将局部范围内拟合损失大于预设损失阈值的像素点作为疑似划痕像素点,利用迪杰斯特拉算法在所述局部范围内找出一条包含所有疑似划痕像素点的最短路径,根据最短路径的长度和所有疑似划痕像素点的数量的比值计算所述局部范围内所有疑似划痕像素点的连续性,根据连续性和所有像素点的拟合损失均值计算目标像素点的缺陷表现程度,以所有目标像素点的缺陷表现程度对终端液晶表面图像进行大津阈值分割,提高了分割精度,得到了准确、可靠的缺陷检测结果。
技术关键词
表面缺陷检测方法 像素点 连续性 终端 迪杰斯特拉算法 划痕缺陷 图像处理技术 多项式 纵轴 横轴 坐标 曲线 精度
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