多层集成毫米波光学共孔径探测系统

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多层集成毫米波光学共孔径探测系统
申请号:CN202411070101
申请日期:2024-08-06
公开号:CN118778030B
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种多层集成毫米波光学共孔径探测系统,涉及雷达光学复合探测技术领域。本发明采用毫米波跟踪流程和光学成像流程一体化信息处理;所述多层集成毫米波光学共孔径探测系统包括第一层、第二层和第三层,第一层为毫米波阵列层、第二层为综合层、第三层为光子芯片层。本发明通过毫米波阵列、透镜成像阵列、毫米波芯片和光子芯片的多层结构设计,实现了两者的一体化共平面设计。共孔径探测包含毫米波跟踪流程和光学成像流程,两者可相互提供目标信息实现精确跟踪和精准成像,具备光电捕获、毫米波精确跟踪和体积小的优点,可满足天基、无人机等小平台载探测领域的需求。
技术关键词
探测系统 光子芯片 光学成像 介质基板 阵列天线 复合探测技术 纳米天线阵列 光电探测阵列 多层结构设计 透镜 阵列波导光栅 光开关阵列 植球技术 信息处理 灰度特征 主波束 重构
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