一种材料全偏振反射矩阵测量系统及方法

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一种材料全偏振反射矩阵测量系统及方法
申请号:CN202411073722
申请日期:2024-08-07
公开号:CN118603897B
公开日期:2024-10-08
类型:发明专利
摘要
本发明涉及偏振图像重建技术领域,具体为一种材料全偏振反射矩阵测量系统及方法,用于采集和测量不同材料的标准球体样本,获得材料偏振反射率,以建立材料的全偏振反射矩阵,该矩阵可用于材料偏振特性分析和偏振图像重建。系统包括偏振光发生装置、偏振图像采集装置、标准球体样本固定柱、旋转装置、控制及数据处理装置。本发明基于双旋转波片法计算不同材料的标准球体的Mueller矩阵。通过转台旋转,可获得全角度的偏振图像数据;通过滤光转轮旋转,可获得不同波长的偏振图像数据;通过波片旋转轮的角度旋转,得到不同偏振状态下的图像数据;通过结合材料的偏振特性和标准球体样本的几何特性对图像数据进行分析,计算获得材料的全偏振反射矩阵。
技术关键词
旋转轮 图像采集装置 数据处理装置 矩阵 球体 旋转波片法 偏振片 旋转装置 转台 样本 滤光 偏振光 索引算法 偏振特性分析 相机 图像重建技术
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