缺陷检测方法及装置、模型迁移方法及装置

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缺陷检测方法及装置、模型迁移方法及装置
申请号:CN202411075525
申请日期:2024-08-07
公开号:CN119228728A
公开日期:2024-12-31
类型:发明专利
摘要
一种缺陷检测方法、模型迁移方法,模型迁移方法包括:获取源域图像和相应标注,及从源域获得的基线模型;获取目标域图像,目标域图像全部有标注或者部分有标注或者全部无标注;将源域图像的标注输入去噪器得到去噪标注;对于无标注的目标域图像,输入初始基线模型得到第二目标域预测结果,对无标注的目标域图像进行数据扩充得到第二目标域扩充图像,将第二目标域预测结果作为第二目标域扩充图像的伪标注;利用源域图像和相应的去噪标注、有标注的目标域图像和相应的标注和/或第二目标域扩充图像和相应的伪标注,训练基线模型,获得迁移模型。上述方法能以少量带标注的目标域图像完成训练,解决目标域图像不足的情况下模型迁移性能差的问题。
技术关键词
模型迁移方法 缺陷检测方法 基线 数据获取单元 元素 表达式 图像获取模块 像素点 分辨率 缺陷检测装置 模型训练模块 计算机程序产品 参数 场景 成像设备 可读存储介质 处理器
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